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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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它是一種延遲測(cè)量設(shè)備，支持所有類型的薄膜，例如用于 OLED 的偏光板、層壓延遲膜和帶有 IPS 液晶延遲膜的偏光板。 實(shí)現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度測(cè)量。 可以“無損、無剝離”地測(cè)量薄膜的層壓狀態(tài)。 此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，支持因樣品重新定位而導(dǎo)致的錯(cuò)位，可輕松實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
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是一種可以方便地離線檢測(cè)面內(nèi)膜厚不均勻性的設(shè)備，用于膜的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽檢。 可以高速且高精度地測(cè)量整個(gè)表面。
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它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線測(cè)量薄膜厚度的設(shè)備。 通過將開創(chuàng)的光譜干涉技術(shù)與新開發(fā)的高精度膜厚計(jì)算處理技術(shù)相結(jié)合，可以以至少0.01的測(cè)量間隔測(cè)量寬度為500mm（使用一臺(tái)時(shí)）的膜厚秒。
