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簡單介紹：
評估和分析不斷發(fā)展的 FPD 制造過程中的各種薄膜
詳情介紹：
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。
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