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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
它是一種延遲測量設(shè)備，支持所有類型的薄膜，例如用于 OLED 的偏光板、層壓延遲膜和帶有 IPS 液晶延遲膜的偏光板。
實現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度測量。
可以“無損、無剝離”地測量薄膜的層壓狀態(tài)。
此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，支持因樣品重新定位而導(dǎo)致的錯位，可輕松實現(xiàn)高精度測量。
詳情介紹：
僅使用獨特的分光鏡才能進行的高精度測量
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