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OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-9800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀塔瑪薩崎

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀可集成到各種制造設備中可進行實時薄膜厚度測量
上海代理OTSUKA大塚無損非接觸膜厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司上海代理OTSUKA大塚無損非接觸膜厚儀FE-300薄膜厚度計，通過操作簡單的高精度光學干涉測量實現薄膜厚度測量。
OTSUKA大塚江蘇代理顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
OTSUKA大塚橢圓光譜儀 FE-5000/5000S

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚橢圓光譜儀 FE-5000/5000S
OTSUKA大塚嵌入式膜厚監測儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚嵌入式膜厚監測儀
OTSUKA大塚膜厚監測儀FE-300

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚膜厚監測儀FE-300
OTSUKA大塚顯微光譜儀OPTM

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚顯微光譜儀OPTM
OTSUKA大塚線掃描膠片測厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚線掃描膠片測厚儀OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo
OTSUKA大塚超快光譜干涉儀測厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚超快光譜干涉儀測厚儀
OTSUKA大塚動態光散射光度計DLS-8000系列

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚動態光散射光度計DLS-8000系列
OTSUKA大塚光纖動態光散射光度計FDLS-3000

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚光纖動態光散射光度計FDLS-3000
OTSUKA大塚 ZITA 電位、粒徑和分子量測量系統 ELSZ-2000ZS

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚 ZITA 電位、粒徑和分子量測量系統 ELSZ-2000ZS
OTSUKA大塚Zeta電位和粒度測量系統 ELSZneoSE

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚Zeta電位和粒度測量系統 ELSZneoSE
OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo
多通道光譜儀大塚OTSUKA蘇州辦事處MCPD-9800-916C

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