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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學(xué)材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
詳情介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學(xué)材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
OTSUKA大塚顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
OPTM顯微分光膜厚儀是FE-3000反射分光膜厚計的**代產(chǎn)品。OPTM沿用分光干涉法，可測量**反射率、多層膜厚、折射率和消光系數(shù)，納米級測量，精度高。OPTM可用于FPD構(gòu)件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光觸媒、汽車零件DLC膜、半導(dǎo)體材料氧化層、光學(xué)材料薄膜等材料的無損非接觸式測量，檢測時間僅需1秒。
產(chǎn)品特點：
·非接觸非破壞式測量
·高速拍攝自動對焦，1秒即可得到結(jié)果
·波長范圍廣（紫外-近紅外），可測量厚度或顏色不同的各種薄膜
·操作簡單，無經(jīng)驗也可輕松解析光學(xué)常數(shù)
·開放而**的操作臺，光柵傳感器觸發(fā)停止，避免損傷。
產(chǎn)品參數(shù)：
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OPTM-A1 | OPTM-A2 | OPTM-A3 |
|---|---|---|---|
| 波長範(fàn)圍 | 230 ~ 800 nm | 360 ~ 1100 nm | 900 ~ 1600 nm |
| 膜厚範(fàn)圍 | 1nm ~ 35μm | 7nm ~ 49μm | 16nm ~ 92μm |
| 測定時間 | 1秒 / 1點 |
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| 光徑大小 | 10μm (*小約5μm) |
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| 感光元件 | CCD | InGaAs |
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| 光源規(guī)格 | 氘燈+鹵素?zé)? | 鹵素?zé)? |
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| 電源規(guī)格 | AC100V±10V 750VA（自動樣品臺規(guī)格） |
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| 尺寸 | 555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品臺規(guī)格之主體部分) |
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| 重量 | 約 55kg（自動樣品臺規(guī)格之主體部分） |
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