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產品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀可集成到各種制造設備中可進行實時薄膜厚度測量
詳情介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀
- 使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀
- 搭載高精度FFT薄膜厚度分析引擎（磚利第4834847號）
- 光纖可以自由地構建測量系統。
- 可集成到各種制造設備中
- 可進行實時薄膜厚度測量
- 支持遠程操作和多點測量
- 采用長壽命、高穩定性白光LED光源
- OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀
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測量對象：
OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀
硬涂層膜厚分析
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