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產品名稱：OTSUKA大塚電子 zeta 電位儀
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

除了常規的 zeta 電位和粒度測量外，它是一種可以測量分子量的設備，可通過稀溶液至濃溶液進行測量。支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性樣品池進行測量，通過實際測量電滲流來實現高精度的 zeta 電位測量。此外，通過在0～90°C的寬溫度范圍內進行自動溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。

詳情介紹：

特長

*新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間
通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析
可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量
增加了廣泛的分子量測量和分析功能
支持懸浮高濃度樣品的粒徑和 zeta 電位測量
測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結果。
支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量
支持小面積樣品的平板zeta電位測量

用途

非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、醫藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。

新型功能材料領域
燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能薄膜、催化劑、納米金屬）生物納米
相關（納米膠囊、樹枝狀大分子、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等。
陶瓷/著色材料工業領域
陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
表面改性/分散/無機溶膠的聚集控制
顏料（炭黑/有機顏料）的分散/聚集控制
漿料樣品
濾色器
捕獲漂浮的選定礦物研究關于集料吸附
半導體領域
硅片表面異物附著機理闡明
研磨劑和添加劑與硅片表面的相互作用研究
CMP漿料
高分子/化工領域
乳液（油漆/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫藥/工業用）
聚電解質（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究，功能性納米顆粒
紙/紙漿造紙工藝控制和紙漿添加劑研究
醫藥/食品工業領域
乳液（食品/香料/醫藥/化妝品）分散/聚集控制，蛋白質功能
脂質體/囊泡分散/聚集控制，表面活性劑（膠束）功能

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產品名稱：OTSUKA大塚電子 zeta 電位儀