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蘇州HORIBA崛場寬范圍壓敏質(zhì)量流量計D700WR

蘇州區(qū)域總代HORIBA崛場寬范圍壓敏質(zhì)量流量計D700WR 半導體流量控制安裝了一個新的節(jié)流器，專為大范圍控制應用設計，基于 CRITERION? 技術，具有高精度性能。D700WR 可將流量控制在全量程范圍的 0.1%，幫助用戶優(yōu)化氣體輸送系統(tǒng)的靈活性。例如，如果系統(tǒng)安裝了多個 MFC 用于高、低流量控制，用戶可以減少 MFC 的數(shù)量，在同一位置使用另一個 MFC 用于不同的目的。
江蘇HORIBA崛場緊湊型質(zhì)量流量控制器DZ-100

江蘇區(qū)域供應HORIBA崛場緊湊型質(zhì)量流量控制器DZ-100半導體DZ-100 繼承了 HORIBA STEC 公司 MFC D500 所采用的相同標準技術 — 粘性層流范圍壓差檢測系統(tǒng)。該技術實現(xiàn)對各種氣體的質(zhì)量流量進行高精度控制。與 D500 一樣，用戶可配置 DZ-100，支持多量程和多氣體應用。MFC 設計緊湊，減少了內(nèi)部氣流通道占用的內(nèi)部體積，同時采用優(yōu)化控制算法改善了響應特性。該設備使用處理能力較高的緊湊型中央處理器（CPU）。
總代HORIBA崛場半導體質(zhì)量流量模塊D700MG

總代HORIBA崛場半導體質(zhì)量流量模塊D700MG流量控制器高響應壓力非敏感質(zhì)量流量器關鍵的半導體制造過程不斷要求**的氣體流量控制設備，以實現(xiàn)未來的**，以及**的存儲和邏輯設備的實驗室到工廠的過渡。HORIBA公司提出了新的基于壓力的MFC D700MG, D500MG的上部兼容型號，以支持客戶的挑戰(zhàn)。
UVISEL在線橢偏儀HORIBA堀場安徽供應

UVISEL在線橢偏儀HORIBA堀場安徽供應UVISEL相位調(diào)制型光譜橢偏儀是一款可在線測量薄膜厚度和光學特性的設備，可為客戶聽過定制化交鑰匙工程。它的測試速度快，50ms即可獲得數(shù)據(jù)，可有力的監(jiān)控整個膜的均勻性。UVISEL的激發(fā)和收集頭設計非常容易耦合到輥對輥系統(tǒng)中，同時軟件具有先進的通信能力滿足輥對輥生產(chǎn)
UVISEL PLUS橢圓偏振光譜儀研究級HORIBA一手

UVISEL PLUS橢圓偏振光譜儀研究級HORIBA一手UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為先進薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優(yōu)化組合。UVISEL Plus作為一款高準確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術相比，能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
UVISEL Plus In-Situ在線監(jiān)控橢偏儀浙江供應

UVISEL Plus In-Situ在線監(jiān)控橢偏儀浙江供應UVISEL Plus在線監(jiān)控橢偏儀可以很容易的安裝在各類反應腔（PECVD、MOCVD、磁控濺射、蒸鍍、ALD和MBE），實時監(jiān)控薄膜沉積或刻蝕過程。UVISEL Plus在線橢偏儀結(jié)合了速度快、靈敏度高、動態(tài)范圍寬和準確等優(yōu)點，使其能夠在原子層水平監(jiān)控沉積/刻蝕，即使過程速度比較快也可實現(xiàn)。
真空紫外橢偏儀UVISEL 2 VUV 蘇州供應

真空紫外橢偏儀UVISEL 2 VUV 蘇州供應UVISEL 2 VUV專為VUV 測量設計，整個系統(tǒng)處于真空狀態(tài)，無氧氣吸收。具備高準確性；超快測量速度；快速樣品室抽真空能力，方便快速更換樣品；氮氣消耗量少。光譜范圍可覆蓋147-2100nm。UVISEL 2 VUV能夠在充氮氣或抽真空模型下工作。整個機械設計經(jīng)過優(yōu)化，氮氣消耗量低至6L/min，載樣速度快，2分鐘內(nèi)即可完成。真空樣品倉門朝向操作人員更便于樣品裝載。
Smart SE- 功能強高性價比橢偏儀江蘇總代

Smart SE- 功能強高性價比橢偏儀江蘇總代Smart SE 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準確。它可以表征幾埃到20μm薄膜厚度、光學常數(shù)（n, k）以及薄膜結(jié)構(gòu)特性（如粗糙度、光學梯度及各向異性等）。Smart SE利用 DeltaPsi2 軟件平臺在幾分鐘內(nèi)對450-1000nm的光譜數(shù)據(jù)進行采集、建模分析。自動化雙軟件操作平臺，從簡化的工作流程到**研發(fā)，滿足不同層次和需求的客戶。
Auto SE - 自動化薄膜測量工具國內(nèi)總代

Auto SE - 自動化薄膜測量工具國內(nèi)總代Auto SE是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。
無錫供應HORIBA堀場空氣顆粒物監(jiān)測儀APDA-371

國內(nèi)總代HORIBA堀場空氣顆粒物監(jiān)測儀APDA-371 用于懸浮顆粒物 (SPM) 的 APDA-371 空氣顆粒物監(jiān)測儀可確保長期穩(wěn)定性，具備自我診斷功能。使用特氟龍濾紙帶，能有效收集顆粒物。測量原理滿足 EU 和 EPA 規(guī)定，并且還通過了 TueV 型式批準。
HORIBA帶X射線熒光的連續(xù)顆粒物監(jiān)測儀PX-375

國內(nèi)總代HORIBA堀場帶X射線熒光的連續(xù)顆粒物監(jiān)測儀PX-375 APNA-370采用了雙向交替流動調(diào)制型化學發(fā)光法和相關計算法的組合，這使單檢測器有了很大的改進和提高，從而能對 NO、NO2 和 NOx 進行連續(xù)監(jiān)測。這種設計也確保了良好的穩(wěn)定性和高靈敏度。該儀器的標準配置中包括了一個具有自動循環(huán)功能的干燥單元，為臭氧發(fā)生器提供干燥空氣，使長期連續(xù)監(jiān)測成為可能。
昆山供應HORIBA堀場碳氫化合物THC監(jiān)測儀APHA-370

昆山供應HORIBA堀場碳氫化合物THC監(jiān)測儀APHA-370 APHA-370采用交替流動調(diào)制、選擇性催化氧化燃燒與氫火焰離子化檢測法相結(jié)合，連續(xù)監(jiān)測大氣中THC、NMHC 和 CH4濃度。APHA-370 采用獨立的內(nèi)部干法采樣設備，以實現(xiàn)高水平的靈敏度和準確度。
南京HORIBA大氣污染用臭氧監(jiān)測儀APOA-370

南京供應HORIBA大氣污染用臭氧監(jiān)測儀APOA-370 APOA-370 采用了交替流動調(diào)制型紫外線吸收技術連續(xù)監(jiān)測大氣中的臭氧濃度。APOA-370 采用獨立的內(nèi)部干法采樣設備，以實現(xiàn)高水平的靈敏度和準確度。由于干法能夠連續(xù)監(jiān)測和即時分析處于未改變狀態(tài)的氣體，并且維護要求極低，因此一直是監(jiān)測大氣污染的主要方法。
蘇州HORIBA大氣污染用一氧化碳監(jiān)測儀APMA-370

國內(nèi)總代蘇州HORIBA堀場大氣污染用一氧化碳監(jiān)測儀APMA-370 APMA-370 是一種使用交替流動調(diào)制非分散紅外吸收法連續(xù)監(jiān)測 CO 濃度的設備。APMA-370 采用獨立的內(nèi)部干法采樣設備，以實現(xiàn)高水平的靈敏度和準確度。由于干法能夠連續(xù)監(jiān)測和即時分析處于未改變狀態(tài)的氣體，并且維護要求極低，因此一直是監(jiān)測大氣污染的主要方法。
浙江有售大氣硫化氫監(jiān)測儀HORIBA堀場APSA-370/CU-1

浙江有售大氣硫化氫監(jiān)測儀HORIBA堀場APSA-370/CU-1 APSA-370/CU-1大氣硫化氫監(jiān)測儀是利用紫外熒光法測量 H2S 在臭氧的催化作用下生成的 SO2 濃度。為了降低環(huán)境濕度的影響，內(nèi)置濕度影響曲線。催化劑的穩(wěn)定反應可使儀器長期穩(wěn)定運行。APSA-370/CU-1 大氣硫化氫監(jiān)測儀由將 H2S 氧化成 SO2 的轉(zhuǎn)換器單元 CU-1和大氣污染監(jiān)測用 SO2 監(jiān)測儀APSA-370 組成。
APSA-370大氣污染監(jiān)測用二氧化硫監(jiān)測儀HORIBA

國內(nèi)總代APSA-370大氣污染監(jiān)測用二氧化硫監(jiān)測儀HORIBA堀場APSA-370 采用了新的檢測器和光學系統(tǒng)，在低背景值下獲得了高靈敏度，同時還大大提高了測量結(jié)果的穩(wěn)定性。APSA-370 熒光池設計特別，能將水分對 SO2 測量結(jié)果的干擾降到較低程度。該儀器內(nèi)置了帶有選擇性透過膜的芳香烴阻隔器，這樣就大大減少了相關成分的干擾。結(jié)合HORIBA 所設計的流路，在延長阻隔器工作壽命的同時避免由于樣品流量的變化對測量結(jié)果的影響。

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