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        • 可以立即測量優(yōu)良量子效率(優(yōu)良量子產(chǎn)率)。與粉末,溶液,固體(薄膜)和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區(qū)域中的雜散光。另外,通過采用集成的半球單元,可以實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng),并且通過利用此優(yōu)勢的再激發(fā)熒光校正,可以執(zhí)行高精度的測量。此外,QE-2100能夠測量量子效率的溫度依賴性,并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。  
        • 該設(shè)備可以輕松地離線檢查面內(nèi)膜厚不均,以進(jìn)行膜的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽樣檢查。 可以高速且高精度地測量整個(gè)表面。
        • 它是FPD生產(chǎn)過程中所有檢查的理想選擇,例如濾色片光學(xué)性能檢查和玻璃基板薄膜厚度檢查。
        • 它是一種相位差測量設(shè)備,可支持所有類型的膜,例如OLED偏振片,層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。 實(shí)現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速,高精度測量。 可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態(tài)。 此外,它配備了簡單的軟件和校正功能,可支持由于樣品重新定位而導(dǎo)致的未對(duì)準(zhǔn),從而實(shí)現(xiàn)了簡單而高度**的測量。
        • 支持從反射/透射型LCD填充電池到帶有彩色濾光片的空電池等各種電池
        • “紫外光譜輻照度測量系統(tǒng)IL100”評(píng)估光源在紫外區(qū)域中的輻照度。 ?從分光光度計(jì)測量可高精度地測量照度? 從紫外線到可見光的測量波長范圍寬 ?可選擇適合于高斜入射特性等應(yīng)用的照度頭·可 用于生物系統(tǒng)評(píng)估中不可缺少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區(qū)域也可以實(shí)現(xiàn)高精度測量的設(shè)備。
        • 評(píng)估紫外線區(qū)域中光源的輻射度。 ? 通過分光輻射度測量可以高精度地測量亮度?支持紫外,可見光和紅外的寬波長測量范圍?可以進(jìn)行光生物學(xué) **性評(píng)估 它是可以測量紫外線亮度的受限設(shè)備。
        • 評(píng)估UV LED的光分布特性。 ?根據(jù)輻射強(qiáng)度/輻照度評(píng)估光分布 ?通過光譜光分布評(píng)估每個(gè)波長的輻射強(qiáng)度 可視化**和樹脂固化光源的不均勻輻射。
        • 評(píng)估UV LED的輻射通量。 ?高性能紫外線LED的輸出評(píng)估? 結(jié)合溫度控制單元的溫度評(píng)估 支持 UV-LED的 光學(xué)特性評(píng)估,該技術(shù)有望進(jìn)行**,純化和樹脂固化。
        • 它是一種具有圖案匹配功能且XY定位精度為2um或更小的系統(tǒng)。
        • 高精度控制光軸!3σ≤0.02°用于 低延遲測量
        • 它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場在線測量薄膜厚度的裝置。 通過將原來的光譜干涉法與*新開發(fā)的高精度膜厚計(jì)算處理技術(shù)相結(jié)合,可以以至少測量間隔至少測量500 mm寬度的膜的膜厚(使用一個(gè)單元時(shí))。 0.01秒
        • 它可以測量從LED到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍 ·通過控制光源的加熱/冷卻可以評(píng)估溫度特性 ·系統(tǒng)可以共同控制DC / AC電源。麻煩的操作所需的 測量精度是高集成度的半球,樣本集易于 測量的瓦特級(jí)大功率激光源相應(yīng)的 測量系統(tǒng)從多年的經(jīng)驗(yàn)可以對(duì)應(yīng)任何場景的總光通量測量,滿足了需求。
        • 一種測量照明設(shè)備的配光特性的設(shè)備。 ?使用內(nèi)部開發(fā)的分光鏡可以實(shí)現(xiàn)高精度的測量! -可以與配光數(shù)據(jù)一起測量顏色!- 即使在光譜測量中,也可以實(shí)現(xiàn)相當(dāng)于照度計(jì)的高速測量! ?根據(jù)配光測量結(jié)果可以進(jìn)行照明率分析!!! -符合標(biāo)準(zhǔn)的測量系統(tǒng)! ?也可以由測量基準(zhǔn)部門提供技術(shù)支持! 該設(shè)備可處理從室內(nèi)照明到泛光燈的各種照明設(shè)備,并滿足多種用途的需求。
        • 它以超高速,實(shí)時(shí),高精度的晶片和樹脂非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程。
        • 除了可以進(jìn)行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外,我們還通過實(shí)現(xiàn)自動(dòng)可變測量機(jī)制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法之外,通過為延遲板提供自動(dòng)連接/分離機(jī)制,還提高了測量精度。  

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