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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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紫外可見光光度計
產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
高精度控制光軸！3σ≤0.02°用于
低延遲測量
詳情介紹：
特殊長度
- 可以從0 nm開始進(jìn)行低（殘留）延遲測量
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可以與光軸檢測同時進(jìn)行延遲（Re。）的高速測量（
可以在0.1秒或更短的時間內(nèi)完成處理，這相當(dāng)于世界上*快的速度）。 - 由于沒有驅(qū)動單元，因此可實現(xiàn)高重復(fù)性
- 易于測量，只需設(shè)置很少的測量項目
- 除了550 nm的測量波長外，我們還有各種波長的產(chǎn)品系列。
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可以進(jìn)行Rth測量和全向測量
（需要可選的自動旋轉(zhuǎn)傾斜夾具） -
通過與拉伸測試儀結(jié)合使用，可以與薄膜的偏振特性同時評估光彈性
（該系統(tǒng)是定制的）。
測量項目
- 參考（ρ[°]，Re [nm]）
- 主軸方位角（θ°）
- 橢圓率（ε）/方位角（γ）
- 三維折射率（NxNyNz）
測量目標(biāo)
- 相差膜，偏光膜，橢圓膜，視角改善膜，各種功能膜
- 透明和各向異性的物質(zhì)，例如樹脂和玻璃（玻璃中的應(yīng)變，變形等）
- 產(chǎn)品信息
- 原則
- 規(guī)格
- 測量例
相關(guān)信息
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膜厚計FE-300 |
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光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S |
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多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800 |
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量子效率測量系統(tǒng)QE-2000 / 2100 |
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