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        • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 OPTM顯微分光膜厚儀 OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2
        • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚
        • ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統ELSZ-2000 此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍(0.6nm~10μm),濃度范圍(0.00001%~40%)。實測電氣滲透流,高精度的ZETA電位測量,*小容量是130μL~的一次性cell。 另,在0~90℃的大的溫度范圍內,測量自動溫度的梯度空間,分析変性?相轉移溫度
        • ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統 此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍(0.6nm~10μm),濃度范圍(0.00001%~40%)。實測電氣滲透流,高精度的ZETA電位測量,*小容量是130μL~的一次性cell
        • ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統 此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍(0.6nm~10μm),濃度范圍(0.00001%~40%)。實測電氣滲透流,高精度的ZETA電位測量,*小容量是130μL~的一次性cell
        • ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統ELSZ-2000 此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍(0.6nm~10μm),濃度范圍(0.00001%~40%)。實測電氣滲透流,高精度的ZETA電位測量,*小容量是130μL~的一次性cell
        • Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
        • Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀
        • Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
        • Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型
        • Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300
        • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
        • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
        • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
        • 晶圓在線測厚系統GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統GS-300Otsuka大塚
        • SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚

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