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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
國內(nèi)總代小坂臺階儀膜厚探針接觸式高度ET200A-3D 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇ET200A-D：配備電動Y軸單元
ET200A-3D：<>D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
詳情介紹：
國內(nèi)總代小坂臺階儀膜厚探針接觸式高度ET200A-3D
它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。
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ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇
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ET200A-D：配備電動Y軸單元
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ET200A-3D：<>D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
*大樣本量
Φ160×厚度52毫米
再現(xiàn)性
1σ 0.3nm以內(nèi)
測量范圍
Z軸：600微米 X：100毫米
分辨率
Z軸：0.1納米 X：0.1微米
測量力
10μN(yùn)~500μN(yùn)
ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇
ET200A-D：配備電動Y軸單元
ET200A-3D：<>D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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