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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
MITAKA三鷹光器微透鏡陣列（MLA）
形狀光學(xué)表征設(shè)備
它配備了NH系列的所有基本形狀測(cè)量功能，可以測(cè)量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測(cè)量曲率和中心坐標(biāo)。
詳情介紹：
MITAKA三鷹光器長處
通過高精度圖像處理可以評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性
評(píng)估項(xiàng)目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時(shí)測(cè)量多個(gè)微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機(jī)捕獲圖像。 通過對(duì)圖像進(jìn)行圖像處理來評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性。
測(cè)量光學(xué)元件
多點(diǎn)微透鏡陣列（MLA）也可以同時(shí)測(cè)量
矩陣創(chuàng)建軟件
專用矩陣測(cè)量軟件可記憶陣列模式，實(shí)現(xiàn)平滑的自動(dòng)測(cè)量。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
MITAKA三鷹光器諾馬斯基微分干涉觀測(cè)
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學(xué)元件。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行定量粗糙度和階梯測(cè)量。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行定量粗糙度和階梯測(cè)量。
帶有諾馬斯基光學(xué)器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學(xué)院的
NH系列光路圖
NH系列光路圖
測(cè)量功能
使用激光探頭測(cè)量透鏡形狀測(cè)量
?曲率半徑、中心坐標(biāo)值
、圓度、頂點(diǎn)高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測(cè)量、各透鏡表面的表面粗糙度
測(cè)量
、圓度、頂點(diǎn)高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測(cè)量、各透鏡表面的表面粗糙度
測(cè)量
光學(xué)表征通過圖像處理測(cè)量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯(cuò)位、各鏡頭的對(duì)焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評(píng)估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測(cè)量（可選）
、錯(cuò)位、各鏡頭的對(duì)焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評(píng)估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測(cè)量（可選）
MITAKA三鷹光器規(guī)范
運(yùn)動(dòng)范圍（X、Y、Z、AF）
100， 100， 100， 10毫米
X-Y 軸刻度分辨率
0.1微米
自動(dòng)對(duì)焦軸刻度分辨率
0.01微米
測(cè)量原理
點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦方法 ISO 25178-605
激光
λ = 635nm 輸出，1mW 或更低
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