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產品名稱：表面粗度輪廓形狀測定儀KOSAKA小坂SEF580A-G18/D
產品型號： SEF580A-G18/D
產品廠商：KOSAKA小坂臺階儀
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簡單介紹：

KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18/D（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用

詳情介紹：

KOSAKA小坂
SEF580A-G18D

可以進行“表面粗糙度”和“輪廓形狀”的兩種測量。觸摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切換測量條件”，并且可以快速響應各種工件的測量。

表面粗糙度測量
- 可以在一次測量中分析具有不同標準的參數，并且可以順利過渡到新標準。
輪廓形狀測量
- X軸上的*大測量采樣點數高達64，000，可實現高分辨率的長距離測量。

表面粗糙度

測量范圍/分辨率	Z軸：600微米/0.08納米
進給速度	0.02~10毫米/秒
唱針	R2μm 0.75mN以下

KOSAKA小坂輪廓形狀

測量精度	Z：±0.25%（我們的標準）X：±（1+0.02L）μm或更小 L：測量長度（毫米）
測量范圍	Z軸：50毫米 X：100毫米
唱針	R25μm 10~30mN

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KOSAKA小坂 SEF580A-G18D

表面粗糙度

KOSAKA小坂輪廓形狀

KOSAKA小坂
SEF580A-G18D