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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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產品名稱：OTSUKA多檢體納米粒徑量測系統 nanoSAQLA
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
產品價格：0
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簡單介紹：

一臺5檢體輕松連續量測一鍵測定簡易功能對應低濃度到高濃度標準測定時間一分高速測定非浸入式、非分注式連續量測搭載溫度梯度(0 ~ 90℃) 對應多國語言操作介面(繁體中文、日文、英文、簡體中文、韓文

詳情介紹：

規格

模型	多樣品納米粒徑測量系統
測量原理	動態光散射法（光子相關法）
光源	高功率半導體激光器（660nm，70mW）^*1
探測器	高靈敏度 APD
連續測量	*多 5 個樣本
測量范圍	0.6nm ~ 10μm
濃度范圍	0.00001-40% ^{* 2}
溫度范圍	0～90℃（帶溫度梯度功能）^*3
樣品容量	方形池：1.2 mL ~，微量池：20 μL ~
尺寸	W240 X D480 X H375 毫米
能量消耗	交流 100-240V 50 / 60Hz, 250VA
重量	約 18 公斤
軟件	平均粒徑分析（累積法）
	粒度分布分析（Marquardt法/Contin法/NNLS/單峰法）
	粒度分布改寫
	逆相關函數/殘差圖
	粒度監視器
	粒徑顯示范圍（0.1 至¹⁰⁶ nm）
	分子量計算功能
	21 CFR Part 11 兼容^{* 4}
選項	微量池（兼容 20 μL），熒光截止濾光片