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產品名稱：膜厚計FE-300
產品型號： FE-300
產品廠商：OTSUKA大塚電子
產品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現膜厚測量。我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設備，從而實現了穩定的數據采集。通過以低價獲得優良反射率可以分析光學常數。　

詳情介紹：

特殊長度

支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
使用反射光譜進行膜厚分析
緊湊且價格低廉，實現了非接觸，無破壞的高精度測量
簡便的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
通過峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優化方法等，可以進行各種各樣的膜厚測量。
通過非線性*小二乘薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。

測量項目

優良反射率測量
膜厚分析（10層）
光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）

測量目標

功能膜，塑料
透明導電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護膜，硬涂層，抗指紋，等等。
半導體
化合物半導體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍寶石等。
表面處理
DLC涂層，防銹劑，防霧劑等
光學材料
濾鏡，增透膜等
FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封劑）等
其他
硬盤，磁帶，建筑材料等

產品信息
原則
規格
設備配置

	反射光譜膜厚儀FE-3000
	嵌入式膜厚監測儀
	多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800
	光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S
	光譜干涉晶圓測厚儀SF-3

產品名稱：膜厚計FE-300

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