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產品名稱：日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備
產品型號：RETS-100
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100

詳情介紹：

相位差膜?光學材料檢查設備　RETS-100

相位差膜?光學材料檢查設備 RETS-100 對應范圍廣，從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應

產品信息

特　點

? 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
? 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板
? **對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備

測量項目

? 封入cell gap
? twist角
? rubbing角
? pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］
? 空cell gap
? 相位差（復折射相位差）的波長分散
? 光學軸
? 橢圓率/方位角
? 三次元折射率/Rth/β
? 分光光譜/色度

測量對象

? 液晶cell
-　透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電）
-　反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
? 光學材料
-　其他（相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料）

仕　樣

型號	RETS series
樣品尺寸	20mm×20mm ～ *
cell gap測量范圍	0.1μm ～數10μm
cell gap重復性	±0.005μm
檢出器	多通道分光光度計
測量波長范圍	400nm ～ 800nm
光學系透過用偏光子unit	偏光光學系消光比 10-5內置Gran-tomson prism（方解石）自動旋轉（角度精度0.1°）、自動裝卸機構
測量口徑	φ2, φ5, φ10 (mm)
光軸傾斜機構	-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等