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        產品詳情
        • 產品名稱:日本大冢分光配光測量系統GP-2000

        • 產品型號:GP-SERIES-GP-2000
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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        • 折扣價格:0
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        簡單介紹:
        日本大冢分光配光測量系統GP-2000 日本大冢分光配光測量系統GP-2000 日本大冢分光配光測量系統GP-2000
        詳情介紹:

        分光配光測量系統 GP SERIES


        分光配光測量系統 GP series

           這是測量照明設備的光分布特性的裝置。

          ?使用內部開發的光譜儀實現高精度測量!
          ?可以使用配光數據進行顏色測量!
          ?即使在光譜測量中也能實現同等于發光計的高速測量!
          ?可根據配光測量結果進行照明系數分析!!
          ?符合標準的測量系統!
          ?也可以通過測量標準部門提供技術支持!
          可以處理各種照明設備,從室內照明到光投影儀,滿足多種用途的要求。







        產品信息

        特點

        ? 支持*大2400 mm的LED燈具的光分布測量
        ? 對應有機EL和大顯示器的光分布測量
        ? 通過自動控制2軸測角儀,每個角度測量光譜分布,由球面系數法可以求出光譜總輻射通量、總光通量、色度、色溫等等
        ? 采用新型探測器,可實現廣動態范圍測量
        ? 支持IESNA中的LM-75和CIE 121
        ? GP-2000可同時支持TypeB、TypeC[正在申請**]
        ? 可用于測量紫外區域和近紅外區域的光分布<可選>
        ? 可以在不改變照明設備的照明姿勢的情況下采用的鏡像旋轉方法(GP-4000)
        ? 支持發光強度標準燈泡(JCSS)

        評估項目

        ?光強度的角度分布(光分布)
        ?光譜輻射通量(光譜)
        ?色度坐標(u',v')                                         [CIE 1976 UCS]
        ?色度坐標(x,y)                                           [JIS Z 8724]
        ?顯色指數(Ra,R1至R15)                        [JIS Z 8726]
        ?相關色溫和Duv                                                [JIS Z 8725]
        ?主波長(顯性)和激發純度(純度)           [JIS Z 8701]
        ?IES(符合LM63-2002和JIS C 8505-5)文件<可選> * 1

        * 1 IES分析軟件[大塚電子制成]也可以讀取和分析由其他公司的配光測量設備導出的IES文件

        規格

        型號

        GP-500 *1

        GP-1100 *1

        GP-2000

        GP-4000


        光學系統*2

        2軸測角儀

        2軸測角儀
        (平面鏡旋轉方法)


        TypeC

        TypeC

        TypeB/C

        TypeC


        光程長度

        500mm以下

        500~1500mm

        1500mm以上

        7500mm以上


        對應樣品

        LED芯片

        一般照明
        module

        包括直管光源
        一般照明

        檢測器

        多通道光譜儀


        測量波長范圍*3

        360nm~830nm


        評估項目

        ·光強度的角度分布(光分布)
        ·光譜輻射通量(光譜)
        ·色度坐標(u',v')[CIE 1976 UCS]
        ·色度坐標(x,y)[JIS Z 8724]
        ·顯性和激發純度(JIS Z 8701)
        ·相關色溫和Duv [JIS Z 8725]
        ·顯色指數(Ra,R1至R15)[JIS Z 8726]
        ·IES(符合LM63-2002和JIS C 8505-5)文件<可選> * 4


        * 1可以進行光譜輻射的分布測量
        * 2 兼容I ESNA LM-75
        * 3檢測器的波長范圍可以選擇
        * 4 IES分析軟件[由大塚電子株式會社制作]也可以讀取和分析其他公司的配光測量設備導出計算的IES文件

        配光測量方法(JIS C 8105-5)中坐標系的類型

        坐標系的類型

        傾斜角度相對于極軸
        (垂直角度)

        以極軸為旋轉中心的傾斜角度(水平角)

        IESNA LM-75表示

        角度符號

        角度范圍

        角度符號

        角度范圍

        αβ座標系

        α

        -90° ≦ α ≦ 90°

        β

        -180° ≦ β < 180°

        Type B

        θφ座標系

        θ

        0° ≦ θ ≦ 180°

        θ

        0° ≦ φ < 360°

        Type C

        gp_01.jpg

        裝置構成

        GP-4000-2.jpg

        GP-2000.jpg

        GP-500.jpg



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