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加熱器
全光束測量系統 HM/FM SERIES
測量從LED到照明器具的各種光源的總光通量。
? 積分球+光譜儀，可處理從總光通量到顏色測量的廣泛范圍
? 光源的加熱/冷卻控制使溫度特性評估成為可能
? 直流交流電源系統一齊控制。避免操作麻煩
? 整體半球測量精度高，樣品設置簡單
還支持瓦特級別高功率激光光源的測量
長年的豐富經驗，保證了各種光通量測量場景的對應，根據需要設置測量系統
產品信息
特點
? 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量
? 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準
? 采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量
? 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對應
? 支持LIV測量，脈沖點測量，樣品溫度測量
? 兼容脈沖寬度調制（PWM）調光
對應總光通量測量的所有要求
全光束測量系統總括
評價項目
? 總光通量[JISC7801：2009/JISC8152：2007]
? 光譜總輻射通量（光譜）
? 顏色匹配標準差（SDCM）
? 色度坐標（U，V）[CIE1960UCS]
? 色度坐標（X，Y）[JISZ8724：1997]
? 色度坐標（U'V'）[CIE1976UCS]
? 相關色溫與Duv[JISZ8725：1999]
? 主波長（Dominant）和激發純度（Purity）[JISZ8701：1999]
? 顯色評價數（RA，R1?R15）[JISZ8726：1990]
仕 様
HM系列
特點
? 可以改變光源的照明方向，因此可在實際使用條件下進行測量
? 排除積分空間以外的發光部件，消除吸收誤差
? 積分空間的一半亮度（靈敏度）為兩倍
? 適用于表面發射光源的總光通量測量
? 樣品溫度調節方便，因為除了發光表面外，它可以放置在整體半球外面
（也對應高功率光源）
? 可消除樣品光源本身陰影的影響，是測量大樣品的理想選擇
（可對應積分球直徑的1/3）
系統構成圖
各種各樣的積分半球
HM系列
特點
? 與整體半球形規格一樣，可以測量2400mm的直管光源
? 使用帶輔助燈泡的積分球，可補正自我吸收
系統配置圖
全光束測量系統 HM/FM SERIES
測量從LED到照明器具的各種光源的總光通量。
? 積分球+光譜儀，可處理從總光通量到顏色測量的廣泛范圍
? 光源的加熱/冷卻控制使溫度特性評估成為可能
? 直流交流電源系統一齊控制。避免操作麻煩
? 整體半球測量精度高，樣品設置簡單
還支持瓦特級別高功率激光光源的測量
長年的豐富經驗，保證了各種光通量測量場景的對應，根據需要設置測量系統
產品信息
特點
? 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量
? 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準
? 采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量
? 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對應
? 支持LIV測量，脈沖點測量，樣品溫度測量
? 兼容脈沖寬度調制（PWM）調光
對應總光通量測量的所有要求
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評價項目
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? 光譜總輻射通量（光譜）
? 顏色匹配標準差（SDCM）
? 色度坐標（U，V）[CIE1960UCS]
? 色度坐標（X，Y）[JISZ8724：1997]
? 色度坐標（U'V'）[CIE1976UCS]
? 相關色溫與Duv[JISZ8725：1999]
? 主波長（Dominant）和激發純度（Purity）[JISZ8701：1999]
? 顯色評價數（RA，R1?R15）[JISZ8726：1990]
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特點
? 可以改變光源的照明方向，因此可在實際使用條件下進行測量
? 排除積分空間以外的發光部件，消除吸收誤差
? 積分空間的一半亮度（靈敏度）為兩倍
? 適用于表面發射光源的總光通量測量
? 樣品溫度調節方便，因為除了發光表面外，它可以放置在整體半球外面
（也對應高功率光源）
? 可消除樣品光源本身陰影的影響，是測量大樣品的理想選擇
（可對應積分球直徑的1/3）
系統構成圖
各種各樣的積分半球
HM系列
特點
? 與整體半球形規格一樣，可以測量2400mm的直管光源
? 使用帶輔助燈泡的積分球，可補正自我吸收
系統配置圖
