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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)
熒光體1粒子的熒光特性可以測(cè)定的高靈敏度系統(tǒng)。
1從粒子的取出到測(cè)量的系統(tǒng)化。
可以測(cè)量10μm的粒子。
支持恒溫到600°C的溫度依賴性測(cè)量
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)
詳情介紹：
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)
基于與NIMS共同開發(fā)的單粒子診斷法*的測(cè)定是可能的。
國(guó)立研究開發(fā)法人物質(zhì)·材料研究機(jī)構(gòu)。
基于與NIMS共同開發(fā)的單粒子診斷法*的測(cè)定是可能的。
國(guó)立研究開發(fā)法人物質(zhì)·材料研究機(jī)構(gòu)。
與廣崎尚登法羅、武田隆史研究員的共同研究
熒光體1粒子的熒光特性可以測(cè)定的高靈敏度系統(tǒng)。
1從粒子的取出到測(cè)量的系統(tǒng)化。
可以測(cè)量10μm的粒子。
支持恒溫到600°C的溫度依賴性測(cè)量
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)
測(cè)量項(xiàng)目。
量子效率(量子收獲率)。
發(fā)光光譜。
激發(fā)光譜。
溫度特性
単粒子診斷法による測(cè)定の流れ
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| 蛍光體を合成後、勵(lì)起光照射 | １粒子採(cǎi)取 | 蛍光體の特性を測(cè)定 |
勵(lì)起?発光スペクトル測(cè)定顕微ユニット
量子効率（量子収率）測(cè)定ユニット
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