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產品詳情
簡單介紹：
OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計
詳情介紹：
FE-5000
特 長
- フィルムなどの面內膜厚ムラ検査、**を高速?高精度に測定
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- 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
- 分光測定による高精度な膜厚測定（特許取得）
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仕様
| 測定項目 | 膜厚（FFT） |
| 位置分解能 | 1mm 以下 |
| 測定サイズ | *大250mm幅 × 長さ制限なし |
| 波長範囲 | 400 ～ 920nm |
| 1素子當たりの波長幅 | 約 0.6nm |
| 膜厚測定範囲 | 2 ～ 250μm |
| 測定間隔 | 10msec ～ |
| 裝置サイズ | W600 × D680 × H1250mm |
測定例
250mm幅のフィルムの場合
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