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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
詳情介紹：
OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計
利用顯微分光的微小領(lǐng)域的**反射率測量，高精度的膜厚·光學(xué)常數(shù)解析可能的裝置。
各種薄膜、晶片、光學(xué)材料等涂層膜的厚度和多層膜可以非破壞、非接觸測量.。測定時間是能夠進(jìn)行1秒/point的高速測定的，即使是初次測定的，也搭載了能夠簡單解析光學(xué)常數(shù)的軟件。
特長：
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
將膜厚測量所需的功能集中在頭部！
高精度的**反射率測量（多層膜厚，光學(xué)定數(shù)）
1點1秒以內(nèi)的高速測量
在顯微鏡下實現(xiàn)廣闊的測量波長范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外線-近紅外線）
區(qū)域傳感器的**機(jī)構(gòu)
即使是**次進(jìn)行光學(xué)定數(shù)解析的輕松解析危機(jī)
可定制測量序列的宏功能
對應(yīng)各種定制
仕様
仕様
構(gòu)成図
自動XYステージタイプ
測定項目
- 絶対反射率測定
- 膜厚解析
- 光學(xué)定數(shù)解析（n：屈折率、ｋ：消衰係數(shù)）
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