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塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

本產品配備FIX模式，可自動優化配置，實現約0.4秒的超高速測量。這個測量時間是我們以前的型號的一半。 SR-LEDH將滿足高精度和高速測量的嚴格要求，適用于LED模組生產線的質量控制。特征 ■ 通過局域網進行高速測量（0.4秒），具有FIX模式。 ■ 通過我們新的**光學系統降低了靈敏度的均勻度。 ■ 機身超薄，適用于加工線和系統設備。 ■ 內附原裝軟件開發工具包。（軟件開發工具包） * 軟件開發工具包（SDK）該開發工具包為客戶開發LAN通信軟件提供了方便的工具。 SDK由開發LAN通信軟件所需的頭文件，庫，示例程序組成。您可以通過調用模塊中的庫函數來開發網絡編程（套接字通信編程）。客戶還可以使用網絡編程開發軟件，而無需SDK。可以通過網絡中的PC控制SR-LEDH，也可以通過一臺PC控制多個SR-LEDH。返回頁首主要用途 ■ LE
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

該產品是 Topcon 光譜輻射計中的一款新型**型號，能夠測量從 0.0005cd/m2 的超低亮度到 5，000，000cd/m2 的超高亮度的寬動態范圍。除了新的FIX模式外，SR-LEDW還自動計算*佳測量設置，并縮短連續測量同一物體的測量時間。該產品不僅可以在設計/開發部門高速，高精度地用于LED模組生產線的質量控制。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

該產品是 Topcon 光譜輻射計中的一款新型**型號，能夠測量從 0.0005cd/m2 的超低亮度到 5，000，000cd/m2 的超高亮度的寬動態范圍。除了新的FIX模式外，SR-LEDW還自動計算*佳測量設置，并縮短連續測量同一物體的測量時間。該產品不僅可以在設計/開發部門高速，高精度地用于LED模組生產線的質量控制。半波段寬度為5nm或更小。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

大綱 SR-5A是新一代光譜儀，可以測量從超低亮度到超高亮度的高靈敏度和高速度。測量角度1°下的測量范圍是超低亮度從0.0005 cd /m2擴展到500，000，000 cd / m2的高亮度范圍。 SR-5A無需使用外部ND濾光片即可測量超高亮度LED。 SR-5A通過更新光學系統和改進內部系統算法，縮短了測量時間。通過采用大尺寸彩色觸摸屏，顯著提高了可用性。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

大綱 2D光譜輻射計是采用1nm光譜技術進行高精度和**測量，具有強大的數據分析軟件。通過分析包含頻譜等詳細信息的圖像，可以對各種對象和目的進行傳感。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

2D光譜輻射計是采用1nm光譜技術進行高精度和**測量，具有強大的數據分析軟件。通過非破壞和非接觸，一種光譜儀儀器，有助于保持各種產品的高質量，因為它可以以500萬像素，170億cd / m為單位評估光源或物體的光譜特性2和1nm，如光源的波長特性，材料的光譜透射率特性。 2D光譜輻射計SR-5100分析物體的獨特光譜，不僅可以用于濾光片方法成像色度計或人眼無法評估的特征和發光產品，還可以用于物體的反射光和模擬評估。它可用于廣泛的行業和應用，包括正在加速開發的微型/迷你LED顯示屏，相關材料，材料的紋理，護膚品，紡織印染，景觀等。

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