日本otsukael大塚ZETA電位*粒徑*分子量測試系統(tǒng) ELSZNEO

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZNEO

產(chǎn)品介紹：

ELSZ series的***機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。 在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

特點：

        ● 可安裝熒光濾光器(選配)

 用途

非常適用于界面化學(xué)、無機物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。

●新型功能材料領(lǐng)域

- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。

●陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

●半導(dǎo)體領(lǐng)域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

●聚合物/化工領(lǐng)域

- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）

- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

●制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域

- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測

- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測

       粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

    分析流程

    zeta電位測量原理：電泳光散射法 （激光多普勒法）

    對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應(yīng)的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法。

    實測電滲流的優(yōu)點

    電滲透流應(yīng)用于多成分解析

    固體平板樣品池的應(yīng)用

    高濃度樣品池的測量原理

        分子量測量原理（靜態(tài)光散射法）

    **維里系數(shù)

  參數(shù)

    測量范圍

測量示例

多角度測量，分辨率更高

通過從正面，側(cè)面和背面三個角度進行測量和分析，我們提供了具有更高分辨率的粒徑分布。

無法通過1個角度測量分離的樣品也可以通過3角度測量和分析分離為多個峰。

微流變學(xué)測量

通過動態(tài)光散射法測量聚合物和蛋白質(zhì)等軟結(jié)構(gòu)的粘彈性。

凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析

通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。

高鹽濃度下的平板固體樣品測量

用于測量平板狀樣品表面ZETA電位的新樣品池。新開發(fā)的高鹽濃度涂層能夠在高鹽濃度環(huán)境（154mM NaCl溶液）中進行測量。實現(xiàn)對生物相容性材料的評估。

寬濃度范圍的Zeta電位和粒徑測量

可測量濃度范圍從0.00001%(0.1PPM)的稀薄溶液到40%濃厚溶液的粒徑和ZETA電位。