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        產品詳情
        • 產品名稱:國內總代kosaka小板 非接觸式探測器

        • 產品型號:
        • 產品廠商:KOSAKA小坂臺階儀
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        簡單介紹:
        國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年創立的公司,也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計,是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 國內總代kosaka小板 非接觸式探測器總代
        詳情介紹:

        國內總代kosaka小板 非接觸式探測器國內總代



        代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高NPM日脈東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(風速計、流量計等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機)、NS精密科學(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵)   SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井

        優勢品牌:AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯HEIDON新東科學USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業產品

        SAKA小坂研究所

        營業項目:自動車光電半導體精密測定機器,表面粗度測定機,微細形狀測定,輪廓形狀測定機,真圓度測定/真圓度圓筒形狀測定機
        營業項目適應行業:

        表面粗糙度測量機:使用鉆石或是激光光學測針、接觸(追蹤)加工件表面、測量出工件表面微細凹凸、并以定型或定量來分析粗糙度參數。
        微細形狀、臺階測量計:FPD基板、硅晶片、硬磐等表面微細形狀、臺階、粗糙度測量圓度、圓柱形狀測量機:測量發動機、缸體、活塞、曲軸、軸承等,具有圓度圓柱度、球形、平面形狀的工件,評估圓度、圓柱度、直線度、同軸度等形狀精度輪廓測量機:以測針追蹤加工部件外形測量出輪廓,分析出輪廓各部位的角度,半徑、間隔、臺階、段差等等


        表面粗度測定機:
        SE300,SE500,SE600,SE610,SE600K,SE600K31,
        SE700,SE4000,
        表面粗度,輪廓形狀測定機:
        SEF580-G18,SEF580--G18D,SEF580-M50,SEF580-M58,SEF580-M58D,SEF680,SEF680K,
        細微形狀測定機:
        ET200,ET4000,ET10000,
        表面形狀,粗度測定機:
        DSF600,DSF900,
        輪廓形狀測定機:.
        EF550-G18,EF550-G18D,EF550-M50,EF550-M58,EF550-M58D,EF650,EF650D,REF100,
        真圓度,圓頭形狀測定機:
        EC600,EC1550H,EC1650H,EC1850H,EC2150,EC2500H,EC2700H,EC2500HF,EC2700HF,EC1850P,
        EC3300P,EC3600A,EC3600B,EC3600C,EC4100H,
        EC5100H,EC6100,
        真圓度標準片:SS-R,
        倍率標準片:SS-C,
        檢出器:
        PU-UG4SC,PU-UG4S,PU-UG5C,PU-UG5S,
        對芯治具:MRC12,
        回轉機構付對芯治具:MRC-20,
        防振臺付架臺:SMB-7,
        防振臺:ECV40
        空氣干燥機:ECA-30A,
        粗度,輪廓形狀測定機用附件:PU-OS400,
        薄膜試片臺:BA-41,
        圓周租度測定臺:SRA-21,
        校正用標準片:
        SS-N,SS-A,SS-G21,SS-F,SS-T,SS-I,SS-E,SS-S,

        日本Kosaka小坂研究所

        非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進行測量。 緊湊的光學布置可實現內徑的表面紋理測量,這在現有的非接觸式檢測器中是困難的。

        • 由于檢測到與焦點位置的偏差量,因此沒有根據形狀移動的零件,因此可以進行高速測量。
        • 由于激光的光強度可以分20步改變,因此即使對于反射率低的工件也可以進行測量。
        • 自動停止功能可自動將探測器移動到焦點位置,無需對焦。
        測量范圍 12~500微米
        分辨率 0.2~0.5納米
        光斑直徑在測量范圍內 約1~25μm
        測量精度 1%+0.03微米
        重復性 10納米
        激光 *大輸出功率 2mW,635nm,1 類 (JIS C 6802:2011)




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