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產品詳情
簡單介紹：
KOSAKA小坂小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用
詳情介紹：
KOSAKA小坂
SEF580A-M50
可以進行“表面粗糙度”和“輪廓形狀”的兩種測量。 觸摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切換測量條件”，并且可以快速響應各種工件的測量。
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表面粗糙度測量
- 可以在一次測量中分析具有不同標準的參數，并且可以順利過渡到新標準。
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輪廓形狀測量
- X軸上的*大測量采樣點數高達64，000，可實現高分辨率的長距離測量。
SEF580A-M50表面粗糙度
| 測量范圍/分辨率 | Z軸：600微米/0.08納米 |
|---|---|
| 進給速度 | 0.02~10毫米/秒 |
| 唱針 | R2μm 0.75mN以下 |
輪廓形狀
| 測量精度 |
Z：±0.25%（我們的標準）X：±（1+0.02L）μm或更小 L：測量長度（毫米） |
|---|---|
| 測量范圍 | Z軸：50毫米 X：100毫米 |
| 唱針 | R25μm 10~30mN |
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