日本精品一区二区,国产情侣一区二区三区,91精品免费视频

搜索

熱門搜索：

代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

產品中心

所在位置: 首頁> 產品目錄> TONCON拓豐>

產品詳情

查看大圖

產品名稱：塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀
產品型號：近紅外光譜儀 SR-NIR
產品廠商：TOPCON拓普康
產品價格：0
折扣價格：0
產品文檔：

你添加了1件商品查看購物車

簡單介紹：

*近，對測量近紅外光譜區域的需求有所增加，但是，特別是在 FPD和照明市場，沒有方便且高精度的測量儀器。在這種情況下，我們基于我們有名的SR-3AR技術開發了近紅外光譜儀SR-NIR。而且，您可以使用其他SR系列和SR-NIR測量從380nm到1030nm的光譜輻射。

詳情介紹：

特征

■ 從平板顯示器
可測量近紅外光譜區域的超弱光信號 ■ 高精度測量近紅外光譜區域。
■ 可由其他SR系列和SR-NIR同時測量380nm至1030nm的近紅外光譜。

主要用途

■ 用于測量FPD的近紅外光譜區域，如LCD和OLED。
■ 用于測量Ne、Ar線譜。
■ 用于測量薄膜片材在近紅外光譜區域的透射特性。
■ 來自其他光源的近紅外光譜區域。

規格

光電探測器	電子冷卻線性 CCD
分散元件	衍射光柵
光學系統	目標鏡頭： f = 82mm F2.5，目鏡鏡頭： 5° 視場
測量角度	2°/1°/0.2°/0.1°可選（電機驅動）
*小測量面積	2°： 10.0 mmφ 1°： 4.99 mmφ 0.2°： 1.0 mmφ 0.1°： 0.5 mmφ
測量距離	350mm – ∞（距物鏡金屬**的距離）
波長范圍	600 – 1030nm
頻譜帶寬	6 – 8nm （半帶寬）
波長分辨率	1納米
測量模式	自動/手動（積分時間/頻率）
測量對象	光譜輻射度： W?sr-1?m-2?海里-1
計算功能	光譜輻射： 600 – 1030nm
測量范圍(*1)	2° ： 0.5 – 3，000 cd/m2 1° ： 1 – 9，000 cd/m2 0.2° ： 20 – 70，000 cd/m2 0.1° ： 100 – 300，000 cd/m2
重復性(*2)	±2%以下
極化誤差	光譜輻射 5% 或更低
校準標準	托普康標準燈（標準光源A，23°C±3°C，65%RH以下）
測量時間(*3)	約 1 – 31 秒
接口	RS-232C， USB 2.0
電源	專用交流適配器 AC100V-240V， 50/60Hz，
功耗	約34W
使用條件	溫度：5 – 35°C，濕度：80%RH或更低（無冷凝）
外部尺寸（寬×深×高）	150×406×239毫米
重量	約5.5公斤

*1 本產品沒有亮度測量，所以這是標準光源A的參考數據，
*2波長從600到1030nm，對于TOPCON標準光源。
*3 與PC的通信時間除外。

測量區域

測量面積：毫米

測量角度	測量距離 [毫米]*
測量角度	350	500	800	1000	2000
2°	10.0	15.1	25.4	32.2	66.4
1°	4.99	7.55	12.7	16.1	33.2
0.2°	1.00	1.51	2.54	3.22	6.64
0.1°	0.50	0.76	1.27	1.61	3.32

*測量距離是與物鏡儀器上金屬夾具**的距離。

輔料

■ 連接鏡頭： AL-6
■ 連接鏡頭： AL-11
■ 連接鏡頭： AL-12
■ CCD 適配器： IA-2
■ 光纖探頭： FP-3P
■ 三腳架 5N ：三腳架 5N
■ 三腳架：三腳架 SR
■ 精細控制臺： S-4

產品留言

標題

聯系人

聯系電話

內容

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

蘇公網安備 32050502000409號

產品名稱：塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

特征

主要用途

規格

測量區域

輔料