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產品詳情

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產品名稱：蘇州代理大冢電子膜厚監測儀FE-300
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
產品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現薄膜厚度測量，操作簡單。我們采用一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，實現穩定的數據采集。可以通過以低廉的價格獲得優良反射率來分析光學常數。

詳情介紹：

產品信息

特殊長度

支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
使用反射光譜的薄膜厚度分析
實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時緊湊且價格低廉
簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
可以通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優化法等進行多種薄膜厚度測量。
通過非線性*小二乘膜厚分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。

測量項目

優良反射率測量
膜厚分析（10層）
光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）

測量對象

功能膜、塑料
透明導電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護膜、硬涂層、防指紋，等等。
半導體
化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍寶石等
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
光學材料
濾光片、AR涂層等
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機膜、灌封膠）等
其他

硬盤驅動器、磁帶、建筑材料等。

規格

類型	薄膜型	標準型
測量波長范圍	300-800nm	450-780nm
測量膜厚范圍（SiO ₂換算）	3nm-35μm	10nm-35μm
光斑直徑	φ3mm / φ1.2mm
樣本量	φ200 × 5 (H) mm
測量時間	0.1-10s內
電源	AC100V ± 10% 300VA
尺寸、重量	280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米，24 公斤
其他	參考板，配方創建服務