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產品名稱：日本大冢低相位差高速檢查設備
產品型號：RE-200
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200

詳情介紹：

低相位差高速檢查設備　RE-200

低相位差高速檢查設備 RE-200 光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02°
低相位差測量

產品信息

特點

? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于世界*快速的0.1秒以下來處理）
? 無驅動部，重復再現性高
? 設置的測量項目少，測量簡單
? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統屬特注。）

測量項目

? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
? 主軸方位角（θ[deg.]）
? 橢圓率（ε）?方位角（γ）
? 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

? 什么是RE-200
? RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。

仕　樣

型號	RE series
樣品尺寸	小10×10mm ～大100×100mm
測量波長	550nm （標準仕樣）※1
相位差測量范圍	約0nm ～約1μm
軸檢出重復精度	0.05°（at 3σ） ※2
檢出器	偏光計測模塊
測量光斑直徑	2.2mm×2.2mm
光源	100W 鹵素燈或 LED光源
本體?重量	300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg

Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉：180°, 傾斜：±50°）

? 動旋轉傾斜治具

株式會社タマサキ精密測定機器の総合商社
香港玉崎有限公司
深圳市京都玉崎電子有限公司
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司
地址：江蘇省蘇州市高新區濱河路588號賽格電子市場B座708室
電話：(+86)0512-67089211

手機：(+86)15902189399

郵箱：suz@tamasaki.com
網址：http://www.ktts.net
營業部：黃羅龍

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產品名稱：日本大冢低相位差高速檢查設備

低相位差高速檢查設備 RE-200

低相位差高速檢查設備　RE-200